產(chǎn)品中心
Products光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡 掃描電鏡

特點(diǎn)
緊湊型設(shè)計(jì),分辨率為4 nm*1
通過高靈敏度二次電子探測器,背散射探測器,低真空探測器(UVD*2),實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
操作簡捷,即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
新開發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野
大窗口(30 mm2)SDD能譜系統(tǒng),便于快速分析元素成分*2
規(guī)格
|
項(xiàng)目 |
內(nèi)容 |
|
分解能*3 |
4.0 nm @ 20 kV (SE:高真空模式) |
|
加速電壓 |
0.3 kV ~ 20 kV |
|
放大倍率 |
6× ~ 300,000× (底片倍率) |
|
低真空模式 |
真空范圍:6 ~ 100 Pa |
|
電子槍 |
預(yù)對中鎢燈絲 |
|
樣品臺(tái) |
3-軸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái) |
|
最大樣品尺寸 |
直徑80 mm |
|
最大樣品高度 |
40 mm |
|
尺寸 |
主機(jī):450(W) x 640(D) x 670(H) mm |
|
探測器選配 |
· 高靈敏度低真空二次電子探測器(UVD) · 能量分散型X線探測器(EDS) |


